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Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
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NORM herausgegeben am 30.6.2011
Bezeichnung normen: BS EN 62374-1:2010
Ausgabedatum normen: 30.6.2011
SKU: NS-964041
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
Lighting, signalling and warning devicesIncandescent lampsSemiconductor devices in general
ISBN: 978 0 580 75206 3 Status: Definitive
Letzte Aktualisierung: 2026-11-01 (Zahl der Positionen: 2 208 794)
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