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Die Norm BS EN 62374:2007 31.10.2008 Ansicht

BS EN 62374:2007

Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

Automatische name übersetzung:

Halbleitervorrichtungen. Zeitabhängige dielektrische Durchschlag (TDDB) Test für Gate-Dielektrikum-Filme



NORM herausgegeben am 31.10.2008


Sprache
Realisierung
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 62374:2007
Ausgabedatum normen: 31.10.2008
SKU: NS-99287
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS

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Die Annotation des Normtextes BS EN 62374:2007 :

ISBN: 978 0 580 54048 6 Status: Under Review

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