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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
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NORM herausgegeben am 3.2.2026
Bezeichnung normen: BS EN IEC 60749-23:2026
Ausgabedatum normen: 3.2.2026
SKU: NS-1257877
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 35726 4 Status: Definitive
Letzte Aktualisierung: 2026-02-11 (Zahl der Positionen: 2 260 477)
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