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BS IEC 62047-29:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.
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NORM herausgegeben am 15.3.2018
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS IEC 62047-29:2017
Ausgabedatum normen: 15.3.2018
SKU: NS-810136
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS IEC 62047-29:2017 :
ISBN: 978 0 580 94013 2 Status: Definitive
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