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BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard. Copper stress migration test standard.
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NORM herausgegeben am 21.7.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS IEC 62880-1:2017
Ausgabedatum normen: 21.7.2020
SKU: NS-999493
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS IEC 62880-1:2017 :
ISBN: 978 0 580 85808 6 Status: Definitive
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