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BS IEC 63003:2015
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM.
Automatische name übersetzung:
Norm für die gemeinsamen Testschnittstellenstift Map-Konfiguration für High-Density, einreihige Elektronik Testanforderungen Verwendung IEEE Std 1505 $ uT $ pM
NORM herausgegeben am 31.1.2016
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS IEC 63003:2015
Ausgabedatum normen: 31.1.2016
SKU: NS-625347
Zahl der Seiten: 174
Gewicht ca.: 553 g (1.22 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS IEC 63003:2015 :
ISBN: 978 0 580 91106 4 Status: Definitive
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