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BS IEC 63068-2:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using optical inspection.
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NORM herausgegeben am 8.2.2019
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS IEC 63068-2:2019
Ausgabedatum normen: 8.2.2019
SKU: NS-936751
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS IEC 63068-2:2019 :
ISBN: 978 0 580 51374 9 Status: Definitive
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