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BS IEC 63068-3:2020
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using photoluminescence.
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NORM herausgegeben am 24.7.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS IEC 63068-3:2020
Ausgabedatum normen: 24.7.2020
SKU: NS-999494
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS IEC 63068-3:2020 :
ISBN: 978 0 539 02136 3 Status: Definitive
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