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BS IEC 63275-1:2022
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability.
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NORM herausgegeben am 5.10.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS IEC 63275-1:2022
Ausgabedatum normen: 5.10.2022
SKU: NS-1086526
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS IEC 63275-1:2022 :
ISBN: 978 0 539 12126 1 Status: Definitive
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