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Guideline for evaluating bias temperature instability of silicon carbide metal-oxide-semiconductor devices for power electronic conversion.
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NORM herausgegeben am 10.2.2026
Bezeichnung normen: BS IEC 63601:2026
Ausgabedatum normen: 10.2.2026
SKU: NS-1260373
Zahl der Seiten: 50
Gewicht ca.: 150 g (0.33 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 33085 4 Status: Definitive
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Letzte Aktualisierung: 2026-03-04 (Zahl der Positionen: 2 265 056)
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