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BS ISO 12406:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Verfahren für Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium
NORM herausgegeben am 30.11.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 12406:2010
Ausgabedatum normen: 30.11.2010
SKU: NS-109799
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 12406:2010 :
ISBN: 978 0 580 66874 6 Status: Confirmed
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