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Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren für die In-situ-Charakterisierung von AFM-Sonde Schaftprofil für Nanostrukturmessung verwendet
NORM herausgegeben am 31.8.2014
Bezeichnung normen: BS ISO 13095:2014
Ausgabedatum normen: 31.8.2014
SKU: NS-110045
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 67752 6 Status: Under Review
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Letzte Aktualisierung: 2026-05-04 (Zahl der Positionen: 2 275 493)
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