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BS ISO 14606:2000
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Sputter-Tiefenprofilierung. Optimierung mit Schichtsysteme als Referenzmaterialien
NORM herausgegeben am 15.1.2001
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 14606:2000
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.1.2001
SKU: NS-110599
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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