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BS ISO 14706:2014
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächen elementaren Verunreinigungen an Silizium-Wafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenz (TRFA) -Spektroskopie
NORM herausgegeben am 31.7.2014
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 14706:2014
Ausgabedatum normen: 31.7.2014
SKU: NS-110650
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 14706:2014 :
ISBN: 978 0 580 82725 9 Status: Under Review
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