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BS ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
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NORM herausgegeben am 18.8.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 16413:2020
Ausgabedatum normen: 18.8.2020
SKU: NS-1002512
Zahl der Seiten: 42
Gewicht ca.: 126 g (0.28 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 16413:2020 :
ISBN: 978 0 539 01652 9 Status: Definitive
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