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BS ISO 16531:2013
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Verfahren zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder die Stromdichte für Tiefenprofilierung in AES und XPS
NORM herausgegeben am 31.5.2013
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 16531:2013
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.5.2013
SKU: NS-111396
Zahl der Seiten: 30
Gewicht ca.: 90 g (0.20 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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