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BS ISO 16531:2020
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS.
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NORM herausgegeben am 6.10.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 16531:2020
Ausgabedatum normen: 6.10.2020
SKU: NS-1006936
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 16531:2020 :
ISBN: 978 0 539 05785 0 Status: Confirmed
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