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BS ISO 17109:2015
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy. Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Verfahren zur Sputterrate Bestimmung im Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen- Massenspektrometrie Sputter- Tiefenprofilierung mit Einzel- und Mehrschicht- Dünnfilme
NORM herausgegeben am 31.8.2015
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 17109:2015
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.8.2015
SKU: NS-612997
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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