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BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.
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NORM herausgegeben am 31.3.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 17109:2022
Ausgabedatum normen: 31.3.2022
SKU: NS-1197867
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 17109:2022 :
ISBN: 978 0 539 19125 7 Status: Definitive
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