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BS ISO 17470:2014
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.
Automatische name übersetzung:
Mikrobereichsanalyse. Elektronenstrahl-Mikroanalyse. Richtlinien für die qualitative Stellenanalyse durch wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie
NORM herausgegeben am 31.1.2014
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 17470:2014
Ausgabedatum normen: 31.1.2014
SKU: NS-111700
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 17470:2014 :
ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway
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