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Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Verfahren zur Schätzung Tiefenauflösung Parameter mit mehreren Delta-Schicht Referenzmaterialien
NORM herausgegeben am 8.8.2003
Bezeichnung normen: BS ISO 20341:2003
Ausgabedatum normen: 8.8.2003
SKU: NS-112218
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 0 580 42439 1 Status: Confirmed
Letzte Aktualisierung: 2026-08-26 (Zahl der Positionen: 2 298 418)
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