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BS ISO 23170:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering.
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NORM herausgegeben am 3.8.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 23170:2022
Ausgabedatum normen: 3.8.2022
SKU: NS-1069629
Zahl der Seiten: 38
Gewicht ca.: 114 g (0.25 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 23170:2022 :
ISBN: 978 0 539 14473 4 Status: Definitive
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