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BS ISO 23812:2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Methode zur Tiefenkalibrierung für Silizium mit mehreren Delta-Schicht Referenzmaterialien
NORM herausgegeben am 31.5.2009
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 23812:2009
Ausgabedatum normen: 31.5.2009
SKU: NS-112777
Zahl der Seiten: 30
Gewicht ca.: 90 g (0.20 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS ISO 23812:2009 :
ISBN: 978 0 580 55765 1 Status: Confirmed
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