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Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry.
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Reproduzierbarkeit und Konstanz der relativen Intensitätsskala in statischen Sekundärionen-Massenspektrometrie
NORM herausgegeben am 31.12.2008
Bezeichnung normen: BS ISO 23830:2008
Ausgabedatum normen: 31.12.2008
SKU: NS-112799
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 55766 8 Status: Confirmed
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Letzte Aktualisierung: 2026-04-24 (Zahl der Positionen: 2 274 650)
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