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BS ISO 25498:2010
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
Automatische name übersetzung:
Mikrobereichsanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Feinbereichselektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
NORM herausgegeben am 30.6.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS ISO 25498:2010
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.6.2010
SKU: NS-112965
Zahl der Seiten: 40
Gewicht ca.: 120 g (0.26 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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