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Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
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NORM herausgegeben am 27.5.2025
Bezeichnung normen: BS ISO 25498:2025-TC
Ausgabedatum normen: 27.5.2025
SKU: NS-1222180
Zahl der Seiten: 132
Gewicht ca.: 427 g (0.94 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 539 37163 5 Status: Definitive
Letzte Aktualisierung: 2026-09-10 (Zahl der Positionen: 2 300 145)
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