Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Festigkeitstestchip Schnitt. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-19
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 69141
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-158210
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část IEC 60749 stanoví (viz poznámku 1) neporušenost materiálů a postupů používaných na připevňování polovodičových čipů k paticím pouzder nebo jiným podložkám (pro účely této zkušební metody by měl termín "polovodičový čip" by měl zahrnovat pasivní prvky). Tato zkušební metoda je obecně použitelná pro pouzdra s dutinou, nebo jako provozní kntrola. Není vhodná pro čipové plochy větší než 10 mm2. Není také vhodná pro technologii čelních čipů nebo pro pohyblivé podložky.
POZNÁMKA 1 - Toto stanovení je založeno na měření síly použité na čip nebo prvek, a dojde-li k poruše, na typu poruchy vycházející z použití síly a z viditelného vzhledu zbytkového média, které připevňuje čip a také z pokovení patice nebo podložky
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Änderung herausgegeben am 1.5.2011
Ausgewählte Ausführung:1.12.2003
1.12.2004
1.12.2004
1.6.2004
UNGÜLTIG
1.3.2007
1.3.2007
Letzte Aktualisierung: 2025-06-16 (Zahl der Positionen: 2 204 817)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.