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ČSN EN 60749-30 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount device prior to reliability testing
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Akklimatisation nehermetických von SMD-Bauteilen vor dem Test Zuverlässigkeit. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.8.2005
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-30
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 73890
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2005
SKU: NS-158233
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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