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ČSN EN 60749-37 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Falltest Platine mit der Beschleunigungsmesser. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.9.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-37
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 81899
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2008
SKU: NS-158242
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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