ČSN EN 60749-5-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

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NORM herausgegeben am 1.12.2017

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-5-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 503885
Ausgabedatum normen: 1.12.2017
SKU: NS-802259
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-5-ed.2 (358799):

Tato norma poskytuje zkoušku životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci za účelem vyhodnocení spolehlivosti nehermeticky zapouzdřených pevnofázových součástek ve vlhkém prostředí. Tato zkouška je považována za destruktivní

Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:

ČSN EN 60749-5-ed.2:2017/Z1 (358799) Änderung

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci.

Änderung herausgegeben am 1.7.2024

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