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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperaturet
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei erhöhter Temperatur. (Text-Standard ist nicht Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-6
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66852
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-158250
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Letzte Aktualisierung: 2026-06-20 (Zahl der Positionen: 2 283 412)
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