ČSN EN 60749-9-ed.2 (358799)

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-9-ed.2 (358799):

Účelem této normy je určit, zda se značení na polovodičových součástkách nestane nečitelné, pokud jsou podrobeny nalepení a odstranění štítků nebo jsou ponořeny do rozpouštědel nebo čisticích roztoků obecně používaných v montážním procesu při odstraňování zbytků pájecí pasty z desky s plošnými spoji.

Tato zkouška je použitelná pro všechny typy pouzder. Je vhodná pro použití při kvalifikační zkoušce a/nebo v monitorovaní procesu zkoušením. Zkoušku je možno považovat za nedestruktivní. Pro účely této zkoušky je možno použít elektrické nebo mechanické zmetky.

Tento postup neplatí pro pouzdra se značením vypáleným laserem. Mnoho vhodných rozpouštědel, která by mohla být použita, je buď nedostatečně aktivních, příliš lepivých, nebo dokonce nebezpečných, v případě, že dojde k přímému kontaktu s lidmi, nebo ke vdechování výparů