Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN 62047-3 (358775)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mikroelektrogeräte - Teil 3: Dünnschicht-Standardteststücke für den Zugversuch. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 62047-3
Zeichen: 358775
Katalog-Nummer: 78595
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-161585
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62047-3 (358775):
Tato mezinárodní norma specifikuje normalizovaný zkušební kus, který se používá pro zajišťování vhodnosti a přesnosti systému zkoušení v tahu pro tenkovrstvové materiály o délce a šířce pod 1 mm a tloušťce pod 10 µm, které jsou hlavním materiálem struktury mikroelektromechanických systémů (MEMS) mikrostrojů a podobných součástek.
Tato mezinárodní norma vychází z koncepce, aby systém zkoušek v tahu mohl zaručovat vhodnost a přesnost při měření pevnosti v tahu normalizovaných zkušebních kusů, jejichž pevnost v tahu je stanovena předem, v předpokládaném rozsahu. Norma rovněž stanoví zkušební kusy pro minimalizaci odchylek charakteristik mezi zkoušenými kusy.
Přejímaná EN 62047-3 představuje 3 strany anglického textu a 15 stran anglického a francouzského textu normy IEC
Ähnliche Normen:
1.4.2014
UNGÜLTIG
1.2.2002
1.8.2012
1.10.2002
1.2.2003
1.5.2005
