ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

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NORM herausgegeben am 1.11.2019


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Realisierung
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-17-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 508691
Ausgabedatum normen: 1.11.2019
SKU: NS-974220
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

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Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (358799):

Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška. Cíle zkoušky jsou tyto: a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6)

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