Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN IEC 60749-18-ed.2 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.12.2019
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-18-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 509091
Ausgabedatum normen: 1.12.2019
SKU: NS-976999
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-18-ed.2 (358799):
Tato norma stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Mohou se použít i jiné vhodné zdroje záření. Uvádí čtyři zkoušky, které jsou uvedeny v tomto postupu: a) standardní zkouška ozářením při pokojové teplotě; b) zkouška ozářením při zvýšené/kryogenní teplotě; c) zrychlená zkoušku žíháním; d) rozšířená citlivostní zkouška při nízké intenzitě dávky (ELDRS). Norma je určena pouze pro ustálená záření a nelze ji použít pro pulsní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Zkoušky podle této normy mohou vytvářet závažné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek, proto jsou tyto zkoušky považovány za destruktivní
Normansicht ČSN EN IEC 60749-18-ed.2 (358799)
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
