Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.8.2026
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-23-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 524316
Ausgabedatum normen: 1.8.2026
SKU: NS-1278464
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma stanoví zkoušku, která se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na polovodičové součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k předčasné nefunkčnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2026-10-30 (Zahl der Positionen: 2 208 138)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.