ČSN EN IEC 60749-23-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

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NORM herausgegeben am 1.8.2026


Sprache
Realisierung
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-23-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 524316
Ausgabedatum normen: 1.8.2026
SKU: NS-1278464
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-23-ed.2 (358799):

Tato norma stanoví zkoušku, která se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na polovodičové součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k předčasné nefunkčnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy

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