Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN IEC 60749-30-ed.2 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.3.2021
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-30-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 511998
Ausgabedatum normen: 1.3.2021
SKU: NS-1018620
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-30-ed.2 (358799):
Tato norma popisuje normalizované postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD).
Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením.
Součástky SMD jsou podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě, předtím než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti (ovlivněné namáháním při pájení)
