ČSN EN IEC 60749-5-ed.3 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

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NORM herausgegeben am 1.7.2024


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-5-ed.3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 519006
Ausgabedatum normen: 1.7.2024
SKU: NS-1188515
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

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Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-5-ed.3 (358799):

Tato norma poskytuje zkoušku životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci za účelem vyhodnocení spolehlivosti nehermeticky zapouzdřených polovodičových součástek ve vlhkém prostředí. Tato zkouška je považována za destruktivní

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