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ČSN EN IEC 63185-ed.2 (353012)
Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method
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NORM herausgegeben am 1.9.2025
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 63185-ed.2
Zeichen: 353012
Katalog-Nummer: 521811
Ausgabedatum normen: 1.9.2025
SKU: NS-1229875
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 63185-ed.2 (353012):
This document relates to a measurement method for complex permittivity of dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes and that of fringing fields are taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis
Normansicht ČSN EN IEC 63185-ed.2 (353012)
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