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ČSN EN IEC 63202-1 (364662)
Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells
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NORM herausgegeben am 1.3.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 63202-1
Zeichen: 364662
Katalog-Nummer: 509003
Ausgabedatum normen: 1.3.2020
SKU: NS-984774
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 63202-1 (364662):
This part of IEC 63202 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield
Normansicht ČSN EN IEC 63202-1 (364662)
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