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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Tests. ( Teilweise aufgehoben und ersetzt - Korrekturen).
NORM herausgegeben am 1.12.1997
Bezeichnung normen: ČSN IEC 749
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 22557
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.12.1997
SKU: NS-175835
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Letzte Aktualisierung: 2026-05-26 (Zahl der Positionen: 2 280 003)
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