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DIN 50453-1:1990-10
Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method.
Automatische name übersetzung:
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren.
NORM herausgegeben am 1.10.1990
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN 50453-1:1990-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.1990
SKU: NS-203870
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes DIN 50453-1:1990-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren.
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