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Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method.
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NORM herausgegeben am 1.8.2023
Bezeichnung normen: DIN 50453-1:2023-08
Ausgabedatum normen: 1.8.2023
SKU: NS-1148496
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen - Teil 1: Silicium-Einkristalle, Gravimetrisches Verfahren.
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Letzte Aktualisierung: 2026-08-21 (Zahl der Positionen: 2 298 377)
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