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Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 2: Silicon-dioxide coating, optical method.
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NORM herausgegeben am 1.8.2023
Bezeichnung normen: DIN 50453-2:2023-08
Ausgabedatum normen: 1.8.2023
SKU: NS-1148497
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen - Teil 2: Siliciumdioxid-Schichten, Optisches Verfahren.
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Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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