E DIN 50451-3:2012-1..
DIN 50452-1:1995-11..
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DIN 50455-1:2009-10
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods.
Automatische name übersetzung:
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Messverfahren.
NORM herausgegeben am 1.10.2009
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN 50455-1:2009-10
Ausgabedatum normen: 1.10.2009
SKU: NS-203877
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes DIN 50455-1:2009-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Messverfahren.
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