DIN 50451-4:2007-02..
E DIN 50451-6:2012-1..
DIN 50452-1:1995-11..
DIN 50452-3:1995-10..
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DIN 50455-2:1999-11
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists.
Automatische name übersetzung:
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.
NORM herausgegeben am 1.11.1999
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN 50455-2:1999-11
Ausgabedatum normen: 1.11.1999
SKU: NS-203879
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes DIN 50455-2:1999-11 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.
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