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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken.
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-10:2003-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-237792
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken.
Letzte Aktualisierung: 2026-03-03 (Zahl der Positionen: 2 264 974)
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