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DIN EN 60749-23:2004-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
NORM herausgegeben am 1.10.2004
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-23:2004-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2004
SKU: NS-237811
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-23:2004-10 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
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