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DIN EN 60749-44:2017-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
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NORM herausgegeben am 1.4.2017
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-44:2017-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2017
SKU: NS-675738
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-44:2017-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.
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