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Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).
NORM herausgegeben am 1.12.2010
Bezeichnung normen: DIN EN 62417:2010-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-239835
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).
UNGÜLTIG
1.11.2009
1.9.1994
1.10.2002
1.6.2003
1.10.2001
1.1.2000
Letzte Aktualisierung: 2024-03-25 (Zahl der Positionen: 2 885 931)
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