Die Norm DIN EN 62417:2010-12 1.12.2010 Ansicht

DIN EN 62417:2010-12

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).



NORM herausgegeben am 1.12.2010


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis59.60 ohne MWS
59.60

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 62417:2010-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-239835
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Kategorie - ähnliche Normen:

Integrated circuits. Microelectronics

Die Annotation des Normtextes DIN EN 62417:2010-12 :

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).



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